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FORESEE ePOP3为智能穿戴减负

发布时间:2025-02-25

近几年智能穿戴越来越火,以智能手环为例,一个小小的智能手环可以集多种功能于一身,既可以实时检测用户的恶性指标,又可以设定手制、协议书等,方便用户经常,成为了手机之外另一个热销电子产品。与很多电子电子产品一样,智能穿戴的灵魂在于CPU和存储设备模块,CPU让电子产品运转顺畅,存储设备模块则对电子产品实际上的数据进行存储设备与读取,二者相互配合从而让电子产品拥有更高合理性。作为存储设备行业的参与者,FORESEE深知存储设备电子产品的重要性,为智能穿戴量身自定义FORESEE ePOP3,助力智能穿戴合理性大大提高。

FORESEE ePOP3的优良合理性展现出在电子产品速度、电子产品尺寸和合理性安正因如此性上,在电子产品速度层面,FORESEE ePOP3应用于的NAND Flash采用高合理性闪存芯片,DRAM速度最高可达1600Mbps,在市面上为数众多小尺寸存储设备电子产品中都很强比较突出的军事优势。

在电子产品尺寸层面,FORESEE ePOP3将eMMC与LPDDR封装在三人,最大厚度控制在0.9mm之内,有利于控制电子产品尺寸,能够兼顾更多小型智能穿戴电子产品的存储设备无需。为了将PCB铁片三维空间运输成本充分发挥到极致,FORESEE ePOP3还应用于了RAM与ROM二合一技术,让FORESEE ePOP3能够在兼容主机CPU上方应用于,优化了PCB铁片走线,能够有利于花费实际上三维空间,让智能穿戴实际上三维空间更大,能够能容更多组件,让智能穿戴有了再度优化的三维空间。

在电子产品合理性的安正因如此性上,FORESEE ePOP3应用于了NAND Flash和DRAM下一代20nm积体电路,不仅大大提高了电子产品的合理性,更能在电子产品停留时间与应用于安正因如此性层面塑造突出军事优势。为了保证电子产品合理性的安正因如此性,FORESEE对ePOP3进行了正因如此层面的软硬件次测试,通过应用于江波禽全方位开发设计的SLT芯片次测试方案对 ePOP3的eMMC(FT、RDT)和LPDDR高频率同时进行大规模次测试,并且通过全方位开发的次测试程序对电子产品进行eMMC次测试、DRAM速度次测试、功能次测试、功耗次测试等次测试,让电子产品很强更合理的安正因如此性。

FORESEE成立于2011年,在多年发展中都FORESEE长期以来注重自身实力大大提高与零售商需求,从而生产线出相符零售商无需的高合理性电子产品,满足零售商无需。相信在未来,FORESEE一定会开发设计出更多优秀电子产品。

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